Existencias: Transporte electrónico en silicio poroso nanoestructurado

Fil: Marín Ramírez, Oscar Alonso. Universidad Nacional del Litoral. Facultad de Ingeniería Química; Argentina

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal:	Marín Ramírez, Oscar Alonso
Otros Autores:	Koropecki, Roberto Roman
Formato:	Tesis
Lenguaje:	Spanish Spanish
Publicado:	2015
Materias:	Silcio poroso Semiconductores nanoestructurados Contactos metal-semiconductor Propiedades eléctricas de semiconductores Propiedades ópticas de semiconductores Memorias volatiles Porous silicon Nanostructured semiconductors Metal-semiconductor contacts Electrical properties of semiconductors Optical properties of semiconductors volatile memories
Acceso en línea:	http://hdl.handle.net/11185/641

http://hdl.handle.net/11185/641