Propiedades ópticas y estructurales del silicio amorfo hidrogenado con diversos grados de cristalinidad.
Se estudia la evolución estructural de las películas delgadas de silicio amorfo hidrogenado en su transición desde la fase amorfa a la cristalina. El mismo se realiza mediante mediciones de transmitancia, para la obtención de espesor y coeficiente de absorción, reflectancia en UV para seguir la evol...
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| Autor Principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | , |
| Formato: | Tesis Libro |
| Lenguaje: | Español |
| Materias: |
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|---|---|---|---|
| 001 | 315715.19.f | ||
| 003 | arsfunl | ||
| 008 | 200806s2012 ARG m 00 0 spa d | ||
| 040 | # | # | |a HHR |d Visado |d HHR |
| 080 | # | # | |a 51 |
| 100 | 1 | # | |a Rinaldi, Pablo A. |c Lic. |
| 245 | 1 | 0 | |a Propiedades ópticas y estructurales del silicio amorfo hidrogenado con diversos grados de cristalinidad. |c Pablo A. Rinaldi; Dir Roberto Koropecki, CoDir Román Buitrago |
| 260 | # | # | |e Santa Fe : |g 2012 |
| 300 | # | # | |a 75 h. : |b il. ; |c 30 cm. |
| 500 | # | # | |a Lugar de realización: Laboratorio de Semiconductores - INTEC |
| 502 | # | # | |a Tesis (Doctorado en Física)--Facultad de Bioquímica y Ciencias Biológicas, Universidad Nacional del Litoral, 2012 |
| 520 | 3 | # | |a Se estudia la evolución estructural de las películas delgadas de silicio amorfo hidrogenado en su transición desde la fase amorfa a la cristalina. El mismo se realiza mediante mediciones de transmitancia, para la obtención de espesor y coeficiente de absorción, reflectancia en UV para seguir la evolución del grado de cristalinidad de las muestras, junto con medidas complementarias de difracción de rayos X y espectrometría Raman. Se estudia además, la respuesta fotoacústica en frecuencia como herramienta para obtener las contantes térmicas, las cuales son indicadoras de cambios en la estructura de enlace interatómico como así también el rol de la efusión del hidrógeno en el proceso de cristalización. |
| 530 | # | # | |a Disponible también en Biblioteca Virtual de la UNL |u http://hdl.handle.net/11185/395 |
| 650 | 0 | 7 | |a Cristalización |2 spines |
| 650 | 0 | 7 | |a Propiedades ópticas |2 spines |
| 653 | 0 | # | |a Tesis Doctoral en Física |
| 653 | 0 | # | |a Silicio amorfo hidrogenado |
| 653 | 0 | # | |a Silicio nanocristalino |
| 653 | 0 | # | |a Fotoacústica |
| 700 | 1 | # | |a Koropecki, Roberto |c Dr. |e director de tesis |
| 700 | 1 | # | |a Buitrago, Román |c Dr. |e director de tesis |
| 887 | # | # | |a Registro Migrado |
| 090 | |a Tes.Doc. FBCB |b Caja 25 |d N° 6 |i 3190782 |u 19 | ||