Propiedades ópticas y estructurales del silicio amorfo hidrogenado con diversos grados de cristalinidad. - Rinaldi, Pablo A. Lic.
Se estudia la evolución estructural de las películas delgadas de silicio amorfo hidrogenado en su transición desde la fase amorfa a la cristalina. El mismo se realiza mediante mediciones de transmitancia, para la obtención de espesor y coeficiente de absorción, reflectancia en UV para seguir la evolución del grado de cristalinidad de las muestras, junto con medidas complementarias de difracción de rayos X y espectrometría Raman. Se estudia además, la respuesta fotoacústica en frecuencia como herramienta para obtener las contantes térmicas, las cuales son indicadoras de cambios en la estructura de enlace interatómico como así también el rol de la efusión del hidrógeno en el proceso de cristalización.