Comentarios: Quantitative X-Ray diffractometry

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal:	Zevin, Lev S.
Otros Autores:	Kimmel, Giora
Formato:	Libro
Lenguaje:	Inglés
Publicado:	New York Springer-Verlag 1995
Materias:	Rayos x-difraccion Rayos x Difraccion industrial-aplicacion

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