Quantitative X-Ray diffractometry
Guardado en:
| Autor Principal: | |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | Inglés |
| Publicado: |
New York
Springer-Verlag
1995
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| Materias: |
Biblioteca Facultad de Ingeniería Química
| Signatura Topogafica: | 537.5 ; Z6 | |
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| Ejemplar | 32228 | |
| Tipo de Prestamo: | Prestamo a domicilio | |
| Disponibilidad: |
Disponible
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