Ion spectroscopies for surface analysis

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Czanderna, Alvin Warren
Otros Autores: Hercules, David M.
Formato: Libro
Lenguaje:Inglés
Publicado: New York Plenum Press 1991
Series:Methods of surface characterization 2
Materias:
LEADER 00648nam a2200229 a 4500
001 158696.2.f
003 arsfunl
008 200806s1991 USA |00 0 eng d
020 # # |a 0306437929 
040 |a HIG 
080 # # |a 539.2 
100 1 # |a Czanderna, Alvin Warren 
245 1 0 |a Ion spectroscopies for surface analysis 
260 # # |a New York  |b Plenum Press  |c 1991 
300 # # |a xvii, 469 p. 
490 0 # |a Methods of surface characterization  |v  2 
653 # # |a Espectroscopia de masa 
653 # # |a Quimica de superficie 
653 # # |a Analisis de superficies solidas 
700 1 # |a Hercules, David M. 
887 # # |a Registro Migrado 
090 |a 539.2  |b C995  |i 32237  |u 2